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1 前言
特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)(含綜合檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)、無(wú)損檢測(cè)機(jī)構(gòu),下同)應(yīng)當(dāng)根據(jù)國(guó)務(wù)院[2003]第373號(hào)令《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》的規(guī)定,經(jīng)國(guó)務(wù)院特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門(mén)核準(zhǔn),方可從事特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)工作,并對(duì)檢驗(yàn)檢測(cè)結(jié)果、鑒定結(jié)論承擔(dān)法律責(zé)任。
這些經(jīng)核準(zhǔn)的特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu),往往為了提高機(jī)構(gòu)的度、為了提高機(jī)構(gòu)的質(zhì)量管理水平、為了滿足客戶的要求,還會(huì)獲取計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可、檢查機(jī)構(gòu)認(rèn)可等資格。
上述資格核準(zhǔn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可、檢查機(jī)構(gòu)認(rèn)可的規(guī)則、準(zhǔn)則中,對(duì)無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備均提出了檢定、校準(zhǔn)和核查等的要求。
按照資格核準(zhǔn)的TSG Z7003《特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)質(zhì)量體系要求》中第十九條(二)規(guī)定:檢測(cè)儀器設(shè)備在投入工作前應(yīng)當(dāng)進(jìn)行檢定(校準(zhǔn))、核查,以驗(yàn)證其能夠滿足檢驗(yàn)檢測(cè)的需要。應(yīng)當(dāng)使用適宜標(biāo)識(shí)表明其檢定(校準(zhǔn))狀態(tài)。
按照計(jì)量認(rèn)證的《實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)定評(píng)審準(zhǔn)則》中第5.5.1條規(guī)定:實(shí)驗(yàn)室應(yīng)確保其相關(guān)檢測(cè)結(jié)果能夠溯源至國(guó)家基標(biāo)準(zhǔn)。實(shí)驗(yàn)室應(yīng)制定和實(shí)施儀器設(shè)備的校準(zhǔn)和/或檢定(驗(yàn)證)、確認(rèn)的總體要求。對(duì)于設(shè)備校準(zhǔn),應(yīng)繪制能溯源到國(guó)家計(jì)量基準(zhǔn)的量值傳遞方框圖(適用時(shí)),以確保在用的測(cè)量?jī)x器設(shè)備量值符合計(jì)量法制規(guī)定;第5.6.1條規(guī)定:用于檢測(cè)和/或校準(zhǔn)的對(duì)檢測(cè)、校準(zhǔn)和抽樣結(jié)果的準(zhǔn)確性或有效性有顯著影響的所有設(shè)備,包括輔助測(cè)量設(shè)備(例如用于測(cè)量環(huán)境條件的設(shè)備),在投入使用前應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)。實(shí)驗(yàn)室應(yīng)制定設(shè)備校準(zhǔn)的計(jì)劃和程序。
按照實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的CNAS-CLO1《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》(ISO/IEC 17025:2005)中第5.5.2條的規(guī)定:對(duì)結(jié)果有重要影響的儀器的關(guān)鍵量或值,應(yīng)制定校準(zhǔn)計(jì)劃。設(shè)備(包括用于抽樣的設(shè)備)在投入服務(wù)前應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)或核查,以證實(shí)其能夠滿足實(shí)驗(yàn)室的規(guī)范要求和相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。設(shè)備在使用前應(yīng)進(jìn)行核查和/或校準(zhǔn)。
但是,在無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備實(shí)際管理中,那些儀器設(shè)備需要檢定?那些需要校準(zhǔn)?如何進(jìn)行自校準(zhǔn)?如何進(jìn)行核查(驗(yàn)證)?等等,由于理解不一、說(shuō)法不一,均困惑著我們。
筆者zui近解讀了香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的《鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可準(zhǔn)則增補(bǔ)第15》(HOKLAS Supplementary Criteria 5《Accreditation of Non-Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》),受該準(zhǔn)則增補(bǔ)的啟發(fā),就保證檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確和量值溯源上,筆者對(duì)特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備的檢定、校準(zhǔn)及校驗(yàn)提出一些相應(yīng)的要求,并試圖滿足特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)資格核準(zhǔn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的要求。
2 關(guān)于無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備檢定、校準(zhǔn)/自校準(zhǔn)與校驗(yàn)的理解
2.1 關(guān)于檢定
檢定具有法定性,屬于《計(jì)量法》計(jì)量管理范疇的執(zhí)法行為,檢定的結(jié)論具有法律效力;檢定是對(duì)測(cè)量器具的計(jì)量特征及技術(shù)要求的全面評(píng)價(jià),這種全面評(píng)定屬于量值統(tǒng)一的范疇,是自上而下的量值傳遞過(guò)程;檢定的依據(jù)是檢定規(guī)程(JJG)。故,凡列入《中華人民共和國(guó)強(qiáng)制檢定的工作計(jì)量器具明細(xì)目錄》(原國(guó)家計(jì)量局[1987]量局法字第188號(hào),后國(guó)家質(zhì)檢總局先后三次頒布國(guó)家強(qiáng)制檢定目錄[1991]374號(hào)、[1999]15號(hào)、[2001]162號(hào)共計(jì)相數(shù)61相、種數(shù)118種)的,并直接用于貿(mào)易結(jié)算、安全防護(hù)、醫(yī)療衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測(cè)的檢測(cè)儀器設(shè)備必須嚴(yán)格依法定點(diǎn)、定期送有資格的法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)和授權(quán)計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)進(jìn)行強(qiáng)制檢定,檢定合格的發(fā)檢定合格證書(shū)。列入強(qiáng)制檢定的有:天平、壓力表、接地電阻測(cè)量?jī)x表、絕緣電阻測(cè)量?jī)x、有害氣體分析儀、分光光度計(jì)、電離放射防護(hù)儀(射線監(jiān)測(cè)儀、照射量率儀、放射性表面污染儀、個(gè)人劑量計(jì)等)。
計(jì)量檢定的依據(jù)必須是計(jì)量檢定規(guī)程。國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程由國(guó)務(wù)院計(jì)量行政部門(mén)制定。
無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備方面,制定有計(jì)量檢定規(guī)程有:JJG746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》、JJG40-2001《X射線機(jī)檢定規(guī)程》、JJG452-1986《黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程》、JJG100-1992《磁粉探傷機(jī)檢定規(guī)程》、JJG403-1986《超聲波測(cè)厚儀檢定規(guī)程》、JJG747-1999《里氏硬度計(jì)檢定規(guī)程》等。
另外,凡列入《中華人民共和國(guó)依法管理的計(jì)量器具目錄(型式批準(zhǔn)部分)》(2005年第145號(hào),自2006年5月1日起施行)的執(zhí)行計(jì)量器具許可證、型式批準(zhǔn)和進(jìn)口計(jì)量器具檢定。列入依法管理的有:測(cè)厚儀、接地電阻測(cè)量?jī)x表、絕緣電阻測(cè)量?jī)x、噪聲測(cè)量分析儀器、照度計(jì)、個(gè)人劑量計(jì)、電導(dǎo)儀、PH計(jì)、分光光度計(jì)測(cè)距儀、經(jīng)緯儀、全站儀、水準(zhǔn)儀、天平、流量計(jì)、材料試驗(yàn)機(jī)、光譜儀、濁度計(jì)等。
隨著我國(guó)改革開(kāi)放及經(jīng)濟(jì)的發(fā)展,我國(guó)加入WTO之后,法制計(jì)量的范圍將隨之調(diào)整,今后要強(qiáng)化檢定的法制性,屬?gòu)?qiáng)制檢定的計(jì)量器具實(shí)施檢定,非強(qiáng)制檢定的計(jì)量器具可采用校準(zhǔn)、比對(duì)、測(cè)試等方式達(dá)到統(tǒng)一量值、溯源的目的。
2.2 關(guān)于校準(zhǔn)和自校準(zhǔn)
校準(zhǔn)不具有法制性,是檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)自愿溯源行為,校準(zhǔn)的結(jié)論不具備法律效力,給出的《校準(zhǔn)證書(shū)》只是標(biāo)明量值誤差,屬于一種技術(shù)文件;校準(zhǔn)的目的是對(duì)照計(jì)量標(biāo)準(zhǔn),評(píng)定測(cè)量裝置的示值誤差,確保量值準(zhǔn)確,屬于自下而上量值溯源的一組操作;校準(zhǔn)的依據(jù)是校準(zhǔn)規(guī)范(JJF)或參照檢定規(guī)程(JJG)。故對(duì)于大量的非強(qiáng)制檢定的檢測(cè)儀器設(shè)備,為確保其準(zhǔn)確可靠,為使其測(cè)量結(jié)果具有溯源性,以采取校準(zhǔn)為主要方式。校準(zhǔn)溯源一般由有授權(quán)或認(rèn)證的檢定或校準(zhǔn)技術(shù)機(jī)構(gòu)進(jìn)行,也可由檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)自行開(kāi)展自校準(zhǔn)。
因而,校準(zhǔn)是實(shí)現(xiàn)量值統(tǒng)一和準(zhǔn)確可靠的重要途徑。實(shí)際上,校準(zhǔn)一直起著這個(gè)作用,只是在我國(guó)沒(méi)有明確地確定它在量值傳遞及量值溯源中的地位,而一直由*統(tǒng)一管理,實(shí)施單一的量值傳遞體系,僅僅采用檢定作為惟一合法的方式,這已不適應(yīng)目前經(jīng)濟(jì)和技術(shù)發(fā)展的需要。此外,根據(jù)校準(zhǔn)的定義,它可以直觀地理解為是確定示值誤差及其他計(jì)量特性的一組操作,所以在實(shí)施檢定的計(jì)量性能檢查中就包含著校準(zhǔn)。
檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)開(kāi)展自校準(zhǔn)時(shí),應(yīng)按照國(guó)家現(xiàn)有的檢定規(guī)程或校準(zhǔn)方法制定“自校準(zhǔn)方法”,“自校準(zhǔn)方法”參考《國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程編寫(xiě)規(guī)則》JJF1002-1998編制,并提供試驗(yàn)、比對(duì)驗(yàn)證技術(shù)報(bào)告,證明“自校準(zhǔn)方法”的正確、可靠和可行,同時(shí)自校準(zhǔn)采用的工作標(biāo)準(zhǔn)或工作基準(zhǔn)應(yīng)能溯源到標(biāo)準(zhǔn)或國(guó)家基準(zhǔn)。并且,自校準(zhǔn)應(yīng)有測(cè)量不確定度的分析,給出因校準(zhǔn)產(chǎn)生的修正因子。
例:超聲波測(cè)厚儀如進(jìn)行自校準(zhǔn)的話,就應(yīng)有經(jīng)校準(zhǔn)合格的階梯試塊作為自校準(zhǔn)的工作基準(zhǔn)。
2.3 關(guān)于校驗(yàn)
定期對(duì)無(wú)損檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行校驗(yàn),以了解設(shè)備情況,證明設(shè)備符合狀態(tài)良好,符合檢測(cè)要求。校驗(yàn)的方法可參照相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)(如JB/T4730 -2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》)或儀器設(shè)備的技術(shù)說(shuō)明書(shū),甚至文獻(xiàn)介紹等。校驗(yàn)可由使用單位進(jìn)行,也可送外有資格單位進(jìn)行校驗(yàn)。使用單位自己校驗(yàn)時(shí),建議制定出相應(yīng)的校驗(yàn)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)或者列出指導(dǎo)校驗(yàn)操作的依據(jù)方法。
例:JB/T4730 -2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》要求,黑度計(jì)每6個(gè)月校驗(yàn)一次,校驗(yàn)方法可按JB 4730.2附錄B要求;電磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力至少半年校驗(yàn)一次,校驗(yàn)時(shí)應(yīng)有經(jīng)校準(zhǔn)合格的提升力試塊。
3 香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可準(zhǔn)則增補(bǔ)第15的解讀
香港實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的《鋼和金屬焊接的無(wú)損檢測(cè)的認(rèn)可準(zhǔn)則增補(bǔ)第15》是對(duì)對(duì)HKAS002(香港認(rèn)可處)和HOKLAS 003(實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可計(jì)劃-ISO/IEC 17025:2005)的補(bǔ)充和解釋。其在檢測(cè)設(shè)備及其校準(zhǔn)方面專門(mén)有一個(gè)附錄,對(duì)各種檢測(cè)儀器設(shè)備提出了校準(zhǔn)/校驗(yàn)的要求,見(jiàn)下表:
3.1 UT檢測(cè)校準(zhǔn)要求
設(shè)備類型 | 建議zui長(zhǎng)校準(zhǔn)/ 校驗(yàn)間隔 | 校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
探頭和電傳感裝置 (組合調(diào)試) | 每次使用前 | 校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)或校準(zhǔn)試塊 |
校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)(例如:V1/A2、IOW、V2/A4、階梯試塊和A7試塊)(材料性能) | zui初 | 符合EN27963或BS2704 或相當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn),制造商的合格書(shū) |
校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)(例如:V1/A2、IOW、V2/A4、階梯試塊和A7試塊)(表面狀態(tài)) | 每次使用前 | 外觀檢查腐蝕及機(jī)械損傷情況 |
校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn) (半徑及其它尺寸檢查) | 8年 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款規(guī)定的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) |
校準(zhǔn)試塊 (檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)使用,例如:V2/A4試塊) | zui初 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款定義的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) |
1年 | 參照適合的校準(zhǔn)試塊參考標(biāo)準(zhǔn)檢查尺寸 | |
比對(duì)校準(zhǔn)試塊 (材料性能,例如:DAC試塊) | zui初 | 制造商的材料證書(shū) |
比對(duì)校準(zhǔn)試塊 (表面狀態(tài),例如:DAC試塊) | 每次使用前 | 外觀檢查腐蝕及機(jī)械損傷情況 |
比對(duì)校準(zhǔn)試塊 (尺寸,例如:DAC試塊) | 1年 | 用經(jīng)校準(zhǔn)合格的測(cè)量工具檢查尺寸 |
超聲波檢測(cè)系統(tǒng) (探傷儀、探頭和連接電纜) | ||
a、檢查外觀損壞情況 | 每次使用前 | 檢查所有部件及相關(guān)裝置的外觀 |
b、水平線性 | 每次使用前 | 按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
c、垂直線性 | 每次使用前 | 按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
超聲波探傷儀 | 2年 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款定義的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu),符合BS4331或其它相當(dāng)?shù)腅N、ISO標(biāo)準(zhǔn)要求 |
超聲波探頭 (特征參數(shù)) | ||
a、探頭前沿 | 每次使用前 | 按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
b、探頭角度 | 每次使用前 | |
c、主聲束偏離(偏斜) | 每次使用前 | |
d、傳輸補(bǔ)償 | 每次使用前 | 按BS2704,BS EN583-2校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
e、靈敏度和信噪比 | 每個(gè)月 | 按BS2704,EN27963校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
f、總系統(tǒng)增益 | 每個(gè)月 | |
g、聲束剖面尺寸 | 每個(gè)月 | 按BS2704校準(zhǔn)試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
設(shè)備類型 | 建議zui長(zhǎng)校準(zhǔn)/ 校驗(yàn)間隔 | 校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
磁懸液中固體物含量
| 每批 | 符合標(biāo)準(zhǔn)(例如:BS、ASTM、或EN)的制造商的合格證書(shū) |
每批樣品 | 檢查磁懸液中固體物含量符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) | |
熒光磁懸液及磁粉 (在檢測(cè)表面) | 每次檢測(cè)前 | 使用符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的黑光幅照計(jì)檢查黑光幅照度 |
熒光磁懸液及磁粉 (周?chē)h(huán)境白光亮度) | 每次檢測(cè)前 | 使用白光照度計(jì)檢查周?chē)h(huán)境白光亮度 |
非熒光磁懸液及磁粉 (在檢測(cè)表面) | 每次檢測(cè)前 | 使用白光照度計(jì)檢查照明強(qiáng)度 |
黑光幅照計(jì) (作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用) | 1年 | 有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) |
黑光幅照計(jì) (在工作中使用) | 1個(gè)月 | 與參考標(biāo)準(zhǔn)表對(duì)比檢查 |
白光照度計(jì) (作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用) | 1年 | 有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) |
白光照度計(jì) (在工作中使用) | 1個(gè)月 | 與參考標(biāo)準(zhǔn)表對(duì)比檢查 |
*磁鐵和電磁軛 | 每次檢測(cè)前 | 通過(guò)測(cè)量提升力或拉脫力檢查是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) |
提升力重力試塊 (用于檢查磁力強(qiáng)度) | 2年 | 采用合適的秤重天平校準(zhǔn) |
磁場(chǎng)方向 | 每次檢測(cè)前 | 使用磁場(chǎng)指示器檢查磁場(chǎng)方向符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn) |
磁場(chǎng)指示器 | zui初 | 制造商的合格證 |
磁懸液指示靈敏度 | 3個(gè)月 | 使用符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的靈敏度試片 |
設(shè)備類型 | 建議zui長(zhǎng)校準(zhǔn)/ 校驗(yàn)間隔 | 校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
滲透檢測(cè)劑 | 每次檢測(cè)前 | 符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制造商合格證書(shū) |
熒光滲透檢測(cè) (在檢測(cè)表面檢查黑光輻照度) | 每次檢測(cè)前 | 使用黑光幅照計(jì)檢查黑光幅照度 |
非熒光滲透檢測(cè) (在檢測(cè)表面檢查白光照度) | 1年 | 使用白光照度計(jì)檢查照明強(qiáng)度 |
黑光幅照計(jì) (作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用) | 1年 | 有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) |
黑光幅照計(jì) (在工作中使用) | 1個(gè)月 | 與參考標(biāo)準(zhǔn)表對(duì)比檢查 |
白光照度計(jì) (作為參考標(biāo)準(zhǔn)表使用) | 1年 | 有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) |
白光照度計(jì) (在工作中使用) | 1個(gè)月 | 與參考標(biāo)準(zhǔn)表對(duì)比檢查 |
設(shè)備類型 | 建議zui長(zhǎng)校準(zhǔn)/ 校驗(yàn)間隔 | 校準(zhǔn)/校驗(yàn)的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
X射線設(shè)備 | 1年 | 檢查焦點(diǎn)尺寸符合相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn) |
針空板(當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)有要求時(shí)) (用于檢查焦點(diǎn)尺寸) | 10年 | 按HOKLAS003 之5.6.H(d)條款定義的有資格的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu) |
幾何不清晰度 (當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)有要求時(shí)) | 每次檢測(cè)前 | BS2600:1983圖2和A.8條款或相關(guān)標(biāo)準(zhǔn) |
放射同位素 | zui初 | 有衰減圖及尺寸記錄的檔案,制造商的合格證 |
r射線曝光量計(jì)算器 | zui初 | 制造商的合格證,或使用適當(dāng)?shù)臋z查方法 |
射線底片(每批) | zui初 | 檢查每批樣品未曝光的灰霧度 |
像質(zhì)計(jì)(IQI) | zui初 | 符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制造商合格證 |
射線膠片 (分級(jí)和使用) | zui初 | 符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的分級(jí) |
射線膠片 (膠片處理) | 每次使用后 | 膠片處理符合膠片制造商推薦的方法 |
射線底片 (膠片處理之后) | 每次評(píng)片前 | 使用黑度計(jì)或黑度片檢查黑度,通過(guò)IQI確認(rèn)底片的影像質(zhì)量 |
黑度計(jì) | 1個(gè)月 | 按照標(biāo)準(zhǔn)黑度片校準(zhǔn) |
標(biāo)準(zhǔn)黑度片 (作為參考標(biāo)準(zhǔn)) | 5年 | 制造商的合格證 |
射線劑量計(jì) | 1年 | 放射管理局(Radiation Board)認(rèn)可的實(shí)驗(yàn)室 |
北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司是集專業(yè)設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè),專注于新型材料試驗(yàn)機(jī)的研制、材料檢測(cè)技術(shù)的提高及材料試驗(yàn)方法的創(chuàng)新,是國(guó)內(nèi)的材料試驗(yàn)檢測(cè)儀器的生產(chǎn)企業(yè)。
4 無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備檢定與校準(zhǔn)的要求
特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu),為了滿足機(jī)構(gòu)核準(zhǔn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的要求,為了保證檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確和量值溯源上,結(jié)合檢測(cè)儀器設(shè)備性能對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響和JB4730-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》的要求,筆者就常用于特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)的各種檢測(cè)儀器設(shè)備分別提出檢定、校準(zhǔn)或校驗(yàn)的建議。
4.1 UT 儀器的校準(zhǔn)/校驗(yàn)要求
(1)初次使用前,標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)經(jīng)授權(quán)校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)校準(zhǔn)合格;
(2)標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊每次使用前應(yīng)校驗(yàn)外觀檢查腐蝕及機(jī)械損傷情況;每隔4年應(yīng)用檢定/校準(zhǔn)合格的器具校驗(yàn)半徑及其它尺寸。
(3)超聲波探傷儀每1年送法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)或授權(quán)校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢定/校準(zhǔn),執(zhí)行JJG 746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》。
(4)超聲波探傷機(jī)每隔3個(gè)月,應(yīng)進(jìn)行一次水平線性、垂直線性校驗(yàn),采用標(biāo)準(zhǔn)試塊,方法按照J(rèn)B/T 9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測(cè)試方法》;
(5)探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離(入射點(diǎn))、K值(折射角β)與雙峰、主聲束偏離等主要參數(shù)進(jìn)行校驗(yàn),方法按照J(rèn)B/T 10062-1999《超聲探傷用探頭 性能測(cè)試方法》;
(6)超聲檢測(cè)系統(tǒng)每次使用前應(yīng)進(jìn)行靈敏度余量、儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準(zhǔn)靈敏度下)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力等進(jìn)行校驗(yàn),方法按照J(rèn)B/T 9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測(cè)試方法》、JB/T 10062-1999《超聲探傷用探頭 性能測(cè)試方法》。
4.2 MT 儀器的校準(zhǔn)/校驗(yàn)要求
(1)*磁鐵或電磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力至少半年校驗(yàn)一次,利用檢定或校準(zhǔn)合格提升力重力試塊進(jìn)行;
(2)初次使用的提升力重力試塊經(jīng)校準(zhǔn)合格;提升力重力試塊每2年利用檢定或校準(zhǔn)過(guò)的秤重器具校驗(yàn)一次。
(3)磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流表至少半年校準(zhǔn),送有資格校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn);
(4)黑光輻照計(jì)、照度計(jì)、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、毫特斯拉計(jì)等,至少每1年送有資格校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn);
(5)磁粉檢測(cè)系統(tǒng)綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)校驗(yàn),每天檢測(cè)工作開(kāi)始前進(jìn)行,用標(biāo)準(zhǔn)試片、標(biāo)準(zhǔn)試塊校驗(yàn)。
(6)設(shè)備內(nèi)部短路檢查、電流載荷校驗(yàn)、通電時(shí)間校驗(yàn)等每年進(jìn)行一次校驗(yàn)。
4.3 PT儀器的校準(zhǔn)/校驗(yàn)要求
(1)黑光輻照度計(jì)、熒光亮度計(jì)和照度計(jì)等儀器,一般每1年送有資格校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)。
4.4 RT 儀器的校準(zhǔn)/校驗(yàn)要求
(1)射線設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線,曝光曲線每年至少校驗(yàn)一次;射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行校驗(yàn)或重新制作。
(2)黑度計(jì)(光學(xué)密度計(jì))至少每6個(gè)月校驗(yàn)一次,采用標(biāo)準(zhǔn)密度片校驗(yàn),校驗(yàn)方法可按JB 4730.2附錄B要求;
(4)標(biāo)準(zhǔn)密度片每2年送法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)檢定一次,執(zhí)行JJG 452-1986《黑白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程》;
(5)個(gè)人劑量計(jì)、劑量報(bào)警儀每1年送法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢定或校準(zhǔn);
(6)觀片燈的亮度和均勻度應(yīng)每年校驗(yàn)一次。
4.5 渦流儀的校準(zhǔn)/校驗(yàn)要求
(1)對(duì)比試塊應(yīng)用檢定/校準(zhǔn)合格的器具校驗(yàn)加工精度,每次使用前應(yīng)校驗(yàn)外觀檢查腐蝕及機(jī)械損傷情況;
(2)渦流探傷系統(tǒng)的檢測(cè)能力、周向靈敏度差、端部盲區(qū)、分辨力、連續(xù)工作穩(wěn)定性、線性等項(xiàng)目應(yīng)每半年校驗(yàn)一次,校驗(yàn)方法按照GB/T 14480《渦流探傷系統(tǒng)性能測(cè)試方法》要求進(jìn)行。
4.6 測(cè)厚儀的校準(zhǔn)/校驗(yàn)要求
(1)測(cè)厚儀每1年送法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)或授權(quán)校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢定/校準(zhǔn),執(zhí)行JJG 403-1986《超聲波測(cè)厚儀檢定規(guī)程》或JJF11266-2004《超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》;
(2)涂層測(cè)厚儀每1年送法定計(jì)量檢定機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢定,執(zhí)行JJG 889-1995《磁阻法測(cè)厚儀檢定規(guī)程》、JJG818-1993《電渦流式測(cè)厚儀檢定規(guī)程》;
5 結(jié)語(yǔ)
特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)為了地實(shí)施質(zhì)量管理、保證檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確和量值溯源、保障無(wú)損檢測(cè)工作質(zhì)量,需要加強(qiáng)檢測(cè)儀器設(shè)備的管理,同時(shí),無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備的檢定、校準(zhǔn)和校驗(yàn)也是特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)機(jī)構(gòu)資格核準(zhǔn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可的需要,筆者就廣大特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)所共同關(guān)心的問(wèn)題提出個(gè)人的建議,所提出的建議不一定成熟,但也許能給讀者一些有益的啟發(fā)與幫助。北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司。
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