北京探針測(cè)試臺(tái)
簡(jiǎn)要描述:北京探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
訪問(wèn)次數(shù): 1675
所屬分類:其他電力設(shè)備
更新日期:2024-05-31
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
詳情介紹
探針測(cè)試臺(tái) 中測(cè)臺(tái) 點(diǎn)測(cè)機(jī)
型號(hào):SN/ST-102B
北京探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
北京探針測(cè)試臺(tái)(英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
技 術(shù) 指 標(biāo) : |
工作臺(tái)面 | 370mm*245mm | 載物臺(tái)直徑 | 4" | 光學(xué)參數(shù) | 總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm; | 精密旋轉(zhuǎn)臺(tái) | 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°; 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ; 三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開(kāi)關(guān)控制; zui多可布三維探針座6個(gè); 探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm; 探針長(zhǎng)度:40mm; | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm; |
|
標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺(tái)、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。 可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。 |
技 術(shù) 指 標(biāo) : |
工作臺(tái)面 | 370mm*245mm | 載物臺(tái)直徑 | 4" | 光學(xué)參數(shù) | 總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm; | 精密旋轉(zhuǎn)臺(tái) | 粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°; 銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm | 三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ; 三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開(kāi)關(guān)控制; zui多可布三維探針座6個(gè); 探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm; 探針長(zhǎng)度:40mm; | 探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm; |
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標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺(tái)、CCD攝像頭、監(jiān)視器、三維微調(diào)座2個(gè)、探針臂2支、探針2支。 可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。 |
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